菲希爾鍍層測(cè)厚儀Fischer膜厚儀

菲希爾鍍層測(cè)厚儀Fischer膜厚儀

菲希爾涂層測(cè)厚儀特性：

使用準(zhǔn)確性高的電解退鍍技術(shù)（庫(kù)侖法），測(cè)量多鍍層的厚度

圖形顯示的交互方式，易于操作

適用性廣泛：可測(cè)量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度，也適合測(cè)量多鍍層厚度

提供全面的附件產(chǎn)品供您選擇，可滿(mǎn)足特定需求

Couloscope CMS2 STEP菲希爾測(cè)厚儀應(yīng)用：

金屬和非金屬底材上任何類(lèi)型的金屬鍍層

單層或多層的鍍層厚度測(cè)量

特別適用于通過(guò) STEP 測(cè)試進(jìn)行多層鎳測(cè)量

適用于 0.05 μm 至 40 μm 的鍍層厚度測(cè)量

COULOSCOPE CMS2菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀

COULOSCOPE CMS2 Fischer測(cè)厚儀和COULOSCOPE CMS2 STEP菲希爾測(cè)厚儀根據(jù)庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差

庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度

COULOSCOPE CMS2 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽(yáng)極溶解的庫(kù)侖法 （DIN EN ISO 2177）。 簡(jiǎn)單的操作和菜單化的操作指導(dǎo)使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗(yàn)理想的解決方法。設(shè)備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個(gè)預(yù)留的應(yīng)用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應(yīng)用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。

COULOSCOPE CMS2 STEP的特征是STEP測(cè)試功能（同時(shí)測(cè)定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試 （根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據(jù)庫(kù)侖法得出， 而電位差則由一個(gè)鍍有AgCl的銀電極得到。

無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)解決方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車(chē)制造、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設(shè)、大學(xué)和其他研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線,質(zhì)量控制,和教育事業(yè),以評(píng)估的幾何特征的材料,組件和結(jié)構(gòu)和理化性質(zhì),*制造技術(shù)的驅(qū)動(dòng)精益求精。

Fischer DUALSCOPE MP0涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

量 程：0～2000μm。

分辨率0.00um

精 度±1μm（0～50μm）；±2%（50μm～1000μm）；±3%（1000μm～2000μm）。

重復(fù)精度 ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）。

測(cè)量曲率直徑

在精度范圍內(nèi)，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm；

（在允許誤差＜10%時(shí)，鐵基為φ10mm，非鐵基為φ2mm）

測(cè)量面積直徑φ4mm（在允許誤差＜10%時(shí)，為φ2mm）

基體厚度鐵基0.2mm（誤差＜10%時(shí)）；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時(shí)）。

重 量60g（不含電池

外形尺寸64mm×30m×85mm。

電 源兩節(jié)5號(hào)電池。