裝飾性涂層厚度測量Cr/Ni/Cu/ABS菲希爾代理

裝飾性涂層厚度測量Cr/Ni/Cu/ABS菲希爾代理

菲希爾代理Fischer X射線熒光涂層測厚儀Fischer Scope X射線Xulm和Fischer Scope X射線Xulm XYM X射線光譜儀用于小零件涂層厚度的無損測量和成分分析。

菲希爾代理Fischer X射線熒光涂層測厚儀X射線XULM系列簡介

裝飾性涂層厚度測量為了在條件下進行每一次測量，XULM配備了各種準直器和可電動調(diào)節(jié)的基本濾光器。

比例接收器可以實現(xiàn)高計數(shù)率，從而可以進行高精度測量。由于采用了費歇爾基本參數(shù)法，涂層系統(tǒng)以及固體和液體樣品都可以在沒有標(biāo)準件的情況下進行精確的分析和測量。可測量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。

XULM X射線譜儀具有良好的長期穩(wěn)定性，因此無需頻繁校準儀器。

菲希爾測厚儀該儀器特別適合客戶進行質(zhì)量控制、進貨檢驗和生產(chǎn)過程監(jiān)控。

菲希爾測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

FISCHERSCOPE XUL微小零件、連接器和電線涂層厚度的測量

FISCHERSCOPE XUL印刷電路板上的手動測量

菲希爾xul珠寶行業(yè)涂層厚度測量及成分分析

菲希爾X射線熒光涂層測厚儀的X射線XULM系列設(shè)計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM是一系列桌面測量儀器，具有友好的界面和緊湊的結(jié)構(gòu)。根據(jù)使用情況，有以下兩種不同的版本和型號，分別對應(yīng)不同的示例平臺:

XULM:固定平臺

XULM XYm:手動X/Y平臺

具有強大放大功能的高分辨率彩色攝像機可以定位測量位置。

雖然儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊，但XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，因此可以測量更大的樣品。

蓋子底部留有間隙，可以方便地測量大尺寸的平板樣品，如大面積的印刷電路板，超過測量室的尺寸。

通過功能強大、界面友好的WinFTM軟件，可以在計算機上方便地完成整個測量過程，包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示。

XULM光譜儀是一種保護措施完善的測量儀器，其型式許可符合德國“Deutsche rntgenverordnung-RV"的要求。