菲希爾測厚儀Dualscope FMP150

菲希爾測厚儀Dualscope FMP150

德國菲希爾涂層測厚儀H FMP150優勢特性：

● Dualscope FMP150探頭種類很多，包括許多特殊的探頭，用于精確執行各種厚度測量任務

● Dualscope FMP150根據DIN EN ISO 2178的磁感應測量方法和根據DIN EN ISO 2360的渦流測量方法，具有最大的靈活性；DUALSCOPE H FMP150還有磁性測量方法

● 涂層厚度測量規范包括 IMO PSPC, SSPC-PA2, QUALANOD或QUALICOAT

● 菲希爾測厚儀自動識別探頭和基材

● 菲希爾測厚儀在高分辨率的圖形觸摸屏上詳細顯示測量模式和檢驗計劃

● 廣泛的評估和統計功能，支持圖形顯示選項

● 菲希爾代理大內存，可用于數千個不同校準的測量應用程序

● 菲希爾代理Windows CE操作系統通過圖形用戶界面和用戶定義的文件和文件夾結構，用戶可以直觀地操作

● 可選：Fischer數據中心軟件可創建單獨的檢驗計劃

● USB接口可連接PC和打印機

fischer代理使用 MP0 或 MP0R 系列涂層厚度測量系統，可以在惡劣的環境中測定陽極氧化層的厚度

fischer代理使用 FMP , 系列設備確定zui薄的陽極氧化層（小于 ?m）厚度，同時考慮 QUALANOD 測量規范的要求

fischer代理為提高耐候性陽極的氧化層進行了再次增密。 通過使用 Anotest? YMP30-S 測量視在導納對這類氧化層進行檢測

通過使用 SIGMASCOPE SMP10 測量電導率檢測合金的強度和成分，或是檢測陽極氧化層的著色

使用顯微硬度測量設備通過顯微硬度來檢測較薄的陽極氧化層的耐磨性

在硫含量已知的情況下，借助 X 射線熒光法檢測硫和鋁的信號強度可以確定較薄的氧化層特性。 使用 XUV773 和XDV-SDD 可以確定材料的成分和厚度。