X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析。在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出好的分析能力，可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。

　　X射線熒光測(cè)厚儀測(cè)量原理：

　　當(dāng)原子受到原級(jí)X射線或其他微觀粒子的激發(fā)使原子內(nèi)層電子電離而出現(xiàn)空位，原子內(nèi)層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內(nèi)層空位，并同時(shí)放出次級(jí)X射線，即X射線熒光。X射線熒光的波長(zhǎng)對(duì)不同元素是特征的，因此可以根據(jù)元素X射線熒光特征波長(zhǎng)對(duì)元素做定性分析，根據(jù)元素釋放出來的熒光強(qiáng)度，來進(jìn)行定量分析如元素厚度或含量分析。

　　X射線熒光測(cè)厚儀測(cè)試過程及注意事項(xiàng)：

　　1．儀器及附件均處開機(jī)狀態(tài)。

　　2．在程序庫中選中與產(chǎn)品對(duì)應(yīng)的曲線。

　　3．打開儀器前蓋，臺(tái)面自動(dòng)伸出。

　　4．將樣品放入儀器臺(tái)面，測(cè)量大致位置對(duì)準(zhǔn)儀器紅外對(duì)焦點(diǎn)。

　　5．關(guān)閉儀器前蓋，儀器臺(tái)面自動(dòng)歸位。

　　6．在顯示器屏幕中用鼠標(biāo)控制儀器臺(tái)面微調(diào)，精確對(duì)準(zhǔn)測(cè)試位置。

　　7．測(cè)試過程中指示燈亮紅，此時(shí)嚴(yán)禁打開儀器前蓋。

　　8．測(cè)試時(shí)間十五秒主窗口及數(shù)據(jù)表中顯示測(cè)試產(chǎn)品厚度。

　　9．指示燈熄滅，打開儀器前蓋，臺(tái)面自動(dòng)伸出。取出樣品，完成測(cè)試。